、每個(gè)階段的測(cè)試類(lèi)型進(jìn)行考慮、定義，比如：需要做哪些方面的測(cè)試？測(cè)試的順序是怎樣的？功能測(cè)試如何進(jìn)行？性能測(cè)試何時(shí)進(jìn)行等等。而測(cè)試的方法更多是體現(xiàn)在一個(gè)具體的測(cè)試中，采取怎樣的測(cè)試思路。另外，在測(cè)試過(guò)程中，對(duì)資源的協(xié)調(diào)也非常關(guān)鍵，需要能保證測(cè)試資源充分利用，每個(gè)測(cè)試人員都有適度并且相當(dāng)?shù)墓ぷ髁俊?
在以往工作中，常常會(huì)進(jìn)行交叉測(cè)試，這里予以介紹：測(cè)試往往是一個(gè)長(zhǎng)期的重復(fù)性工作，對(duì)于測(cè)試人員來(lái)說(shuō)，一個(gè)測(cè)試人員一般長(zhǎng)期從事一種產(chǎn)品或一個(gè)特性的測(cè)試，長(zhǎng)期如此，測(cè)試人員往往會(huì)出現(xiàn)測(cè)試反感膩味倦怠。因此，適當(dāng)?shù)牟捎媒徊鏈y(cè)試，讓兩個(gè)或多個(gè)測(cè)試人員相互學(xué)習(xí)對(duì)方業(yè)務(wù)領(lǐng)域的知識(shí)、并執(zhí)行測(cè)試，既有利于減少測(cè)試人員的倦怠心里，使測(cè)試人員有一種新鮮感，也可能發(fā)現(xiàn)出前測(cè)試人員未發(fā)現(xiàn)的問(wèn)題，也起到了互相監(jiān)督的作用。
5、總結(jié)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)
在測(cè)試的過(guò)程中，測(cè)試人員應(yīng)該及時(shí)總結(jié)發(fā)現(xiàn)的錯(cuò)誤并歸類(lèi)，標(biāo)明經(jīng)常容易出錯(cuò)的地方，將意見(jiàn)提交項(xiàng)目經(jīng)理，審核后，制定出一份統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)并提供給開(kāi)發(fā)人員，這樣就可以提前避免錯(cuò)誤、避免重復(fù)錯(cuò)誤和重復(fù)測(cè)試，提高測(cè)試效率。不僅如此，項(xiàng)目結(jié)束后的各項(xiàng)總結(jié)報(bào)告將是項(xiàng)目的后期維護(hù)或二次開(kāi)發(fā)的寶貴參考資料。
另外，測(cè)試過(guò)程中，也可以將自己所負(fù)責(zé)特性、產(chǎn)品的體會(huì)、心得寫(xiě)出來(lái)，做為測(cè)試指導(dǎo)書(shū)，以便有新員工加入時(shí)，使其迅速上手。
6、缺陷分析、度量
對(duì)測(cè)試活動(dòng)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)的缺陷進(jìn)行分析、度量，尋找軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中存在的問(wèn)題，并持續(xù)改進(jìn)開(kāi)發(fā)過(guò)程，提高質(zhì)量。缺陷的分析、度量從時(shí)間上分為兩個(gè)方面，首先是在軟件開(kāi)發(fā)過(guò)程中發(fā)現(xiàn)的缺陷進(jìn)行分析、度量；然后就是，對(duì)軟件產(chǎn)品發(fā)布后，對(duì)用戶(hù)提出缺陷進(jìn)行統(tǒng)計(jì)、分析。
對(duì)測(cè)試過(guò)程中的缺陷需要分版本，并按不同模塊、問(wèn)題級(jí)別，對(duì)缺陷進(jìn)行各種統(tǒng)計(jì)，并比較子版
本統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)之間的差異，CQ在這方面已經(jīng)提供了比較強(qiáng)大的統(tǒng)計(jì)功能，這里不再贅述。進(jìn)行分析，是因?yàn)殚_(kāi)發(fā)修改后導(dǎo)致該模塊不穩(wěn)定，引發(fā)大量新問(wèn)題；還是因?yàn)榍捌跍y(cè)試出現(xiàn)漏測(cè)（設(shè)計(jì)漏測(cè)、執(zhí)行漏測(cè)）；或者是版本合入新增需求的功能導(dǎo)致。然后根據(jù)問(wèn)題原因，提供改進(jìn)建議。下面對(duì)幾個(gè)參數(shù)進(jìn)行說(shuō)明：
TFVUD 是用戶(hù)發(fā)現(xiàn)缺陷數(shù)（ Total Field Valid Unique Defects ）：即由用戶(hù)發(fā)現(xiàn)的經(jīng)過(guò)了確認(rèn)的、非重復(fù)的、非用戶(hù)錯(cuò)誤操作的、非建議類(lèi)型的所有缺陷；（總數(shù)、按模塊統(tǒng)計(jì)）
PDD 是測(cè)試發(fā)現(xiàn)缺陷數(shù)（ Post Development Defects ）：即在開(kāi)發(fā)完成后的測(cè)試周期中發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)，但它不包括那些向用戶(hù)發(fā)布后發(fā)現(xiàn)的缺陷；（分別按模塊、級(jí)別、時(shí)間 統(tǒng)計(jì)）
DDR是開(kāi)發(fā)缺陷率（Developer Defect Ratio）：一定周期內(nèi)缺陷總數(shù)與代碼行數(shù)的比率。